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热成像仪常见问题——调整发射率注意事项

点击次数:  更新时间:2017-08-14 15:17  【打印此页】  【关闭

在调整发射率时有哪些事项需要注意?

在Fluke 红外热成像仪内,可以通过选择仪器菜单中的“发射率表”列示的各种材料默认发射率,或者选择“手动设置发射率”。手动调整发射率时需注意:
1)尽可能选择被测物体上的一个高发射率表面(非金属、粗糙、低反光)作为参考点。
2) 发射率低于 0.5 时,最好不要直接进行测量。具体测量方法见Q20。
3)在必须拍摄低发射率表面时,建议在视场中放置一个高发射率参考物,或对照接触式测量的结果来对比调整发射率。

对于不同发射率的物体,我在检测时需要注意拍摄角度吗?

对于表面粗糙的材料,在满足目标尺寸的情况下,红外热成像的拍摄角度没有限制;对于表面光滑的非金属(如:玻璃、瓷砖等)和金属材料,拍摄角度不宜超 过垂直方向30 度,以免光亮表面反射干扰能量。普通金属表面的拍摄角度可放宽到不超过垂直方向45 度。

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